Система обнаружения дефектов пленок

Система используется для 100% контроля поверхности прозрачных, непрозрачных и цветных пленок при скоростях хода до 1000 м/мин и разрешениями от 25 мкм. Используемые технологии освещения, а именно режим передачи или отражения, основаны на использовании высокочастотных флуоресцентных ламп со специально разработанным фокусирующим стержнем или высокомощными голубыми/красными/ белыми светодиодами с технологией бескорпусных чипов (Chip on Board, COB) и управлением пассивной системой охлаждения. Дефекты классифицируются согласно настроенным классам дефектов, таким как насекомые, гелевые пятна, черные пятна, царапины, пузыри, дефекты типа “рыбий глаз”, отверстия или повторяющиеся дефекты. Изображения этих дефектов сохраняются для дальнейшего анализа. Высокотехнологичная система использует размытую логику. Функция легкого обучения (Easy Teach In) позволяет оператору выбирать классы дефектов и давать им названия путем оценки изображений дефектов.